LBT涂層測(cè)厚儀主要用途：
本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。

技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量范圍0-1250mm
測(cè)量精度±3%H±1.5ｕm
顯示精度0~99.99ｕm:0.1ｕm 100ｕm以上：1ｕm
Z小基體10X10mm
Z小曲率凸：5mm 凹：25mm
Z薄基體0.5mm

聯(lián)系電話(huà)：15102211717

詳細(xì)介紹

LBT涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。

LBT涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)：

圖片展示

涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。

涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。

涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。

涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。

涂層測(cè)厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。

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